HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無鹵檢測(cè)分析儀是一款專門RoHS檢測(cè)儀器,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù),核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器。 HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無鹵檢測(cè)分析儀外形特點(diǎn): ● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長度設(shè)計(jì),方便移動(dòng)、搬運(yùn)。 ● 上蓋傾斜6度角,寓意對(duì)客戶的尊重。 ● 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。 輻射防護(hù): ● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。 ● 輻射標(biāo)志警示。 ● 迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。 ● 安全連鎖設(shè)計(jì);測(cè)試過程中誤打開樣品蓋時(shí),電路0.1μS快速切斷X射線。 ● 儀器經(jīng)第三方檢測(cè),X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。 硬件技術(shù): ● 超短光路設(shè)計(jì):提高無鹵檢測(cè)分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長儀器使用壽命。 ● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率。 ● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;靜音設(shè)計(jì)。 ● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 ● 技術(shù)快拆樣品盤,更換薄膜更方便。 軟件技術(shù): ●分析元素:Na~U之間元素。 ● 分析時(shí)間:60~400秒。 ● 配置RoHS檢測(cè)分析模型,無鹵分析模型。 ● 軟件界面簡潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。 儀器規(guī)格: ● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長x寬x高) ● 樣品倉尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長x寬x高) ● 儀器重量 :33.5kg ● 供電電源 :AC220V/ 50Hz ● zui大功率 :330W ● 工作溫度 :15-30℃ ● 相對(duì)濕度 :≤85%,不結(jié)露 RoHS檢測(cè)儀器探測(cè)器
● 類型:X-123 Si-PIN探測(cè)器(采用*高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶體面積:25mm2 ● *分辨率:145eV RoHS檢測(cè)儀器X射線管 ● 電 壓 :0~50kV ● zui大電流 :2.0mA ● zui大功率 :50W ● 靶 材 :Mo ● Be窗厚度 :0.2mm ● 使用壽命 :大于2萬小時(shí) 高壓電源 ● 輸出電壓:0~50kV ● 燈絲電流:0~2mA ● zui大功率:50W ● 紋波系數(shù):0.1%(p-p值) ● 8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05% 攝像頭 ● 微焦距 ● 免驅(qū)動(dòng) ● 500萬像素 準(zhǔn)直器、濾光片 ● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng) ● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器 ● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選 ●多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動(dòng)切換 其他配件 ●進(jìn)口高性能開關(guān)電源 ●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇 |